Actions
Feature #7
closed2.10 Test Recipe
Description
帮助文档第33页
Review 设置页面中点击 Test Recipe 进行预测查看检测结果,若出现误检或 alignment 失败情况可进 Recipe 进行
修改 Recipe,确认 OK 后点击右上角 Clear Wafer 按钮进行清片
2个表 : 缺陷列表 和 缺陷细节信息
检测 Defects 信息,包含 Die ID 号、 Site ID 号、 FOV 索引号、 Bin Code、 Reviewed 经复判为 V,未复判为空
Actions