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Description
wafer软件的思维导图见附件
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1. 曲线/柱状图看常能和缺陷趋势我希望在时间范围内查看某一种类型的缺陷的,能够把每天的缺陷数量做成一个柱状图进行显示
2. 通过移动确认晶圆水平和竖直尺寸,设置各方向的晶圆数量这个图的生成,camtek的方式是通过相机移动确定一个晶圆的大小,输入数量,然后生成水平或垂直方向的格子
它是刚开始生成生成的时候是一个矩形,然后再把空白的删除,最后生成一个圆,如上图所示
3. 多模板匹配,以防止混料就是程序当前运行检测的A型号配置文件,但是上的物料是B型号,所以通过检测die的多个位置进行模板匹配以确认
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